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https://hdl.handle.net/20.500.14094/90002973
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90002973 (fulltext)
pdf
1.84 MB
13
メタデータ
ファイル出力
メタデータID
90002973
アクセス権
open access
出版タイプ
Version of Record
タイトル
A 0.15-μm FD-SOI Substrate Bias Control SRAM with Inter-Die Variability Compensation Scheme
著者
Okumura, Shunsuke ; Fujiwara, Hidehiro ; Yamaguchi, Kosuke ; Yoshimoto, Shusuke ; Yoshimoto, Masahiko ; Kawaguchi, Hiroshi
著者名
Okumura, Shunsuke
奥村, 俊介
オクムラ, シュンスケ
著者名
Fujiwara, Hidehiro
藤原, 英弘
フジワラ, ヒデヒロ
著者名
Yamaguchi, Kosuke
山口, 幸介
ヤマグチ, コウスケ
著者名
Yoshimoto, Shusuke
吉本, 秀輔
ヨシモト, シュウスケ
著者ID
A0340
研究者ID
1000030324099
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=40bd226fd9fbd0ed520e17560c007669
著者名
Yoshimoto, Masahiko
吉本, 雅彦
ヨシモト, マサヒコ
所属機関名
システム情報学研究科
著者ID
A0302
研究者ID
1000000361642
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=b584e37f288df9e9520e17560c007669
著者名
Kawaguchi, Hiroshi
川口, 博
カワグチ, ヒロシ
所属機関名
科学技術イノベーション研究科
収録物名
IEICE Transactions on Electronics
巻(号)
95(4)
ページ
579-585
出版者
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers(IEICE)
刊行日
2012-04-01
公開日
2015-11-25
カテゴリ
システム情報学研究科
科学技術イノベーション研究科
学術雑誌論文
権利
copyright©2012 IEICE
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資源タイプ
journal article
言語
English (英語)
ISSN
0916-8524
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eISSN
1745-1353
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DOI
https://doi.org/10.1587/transele.E95.C.579
NAID
10030940806
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