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https://hdl.handle.net/20.500.14094/90002985
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90002985 (fulltext)
pdf
1.86 MB
10
メタデータ
ファイル出力
メタデータID
90002985
アクセス権
open access
出版タイプ
Version of Record
タイトル
Soft-Error Resilient and Margin-Enhanced N-P Reversed 6T SRAM Bitcell
著者
Yoshimoto, Shusuke ; Kawaguchi, Hiroshi ; Yoshimoto, Masahiko
著者名
Yoshimoto, Shusuke
吉本, 秀輔
ヨシモト, シュウスケ
著者ID
A0302
研究者ID
1000000361642
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=b584e37f288df9e9520e17560c007669
著者名
Kawaguchi, Hiroshi
川口, 博
カワグチ, ヒロシ
所属機関名
科学技術イノベーション研究科
著者ID
A0340
研究者ID
1000030324099
KUID
https://kuid-rm-web.ofc.kobe-u.ac.jp/search/detail?systemId=40bd226fd9fbd0ed520e17560c007669
著者名
Yoshimoto, Masahiko
吉本, 雅彦
ヨシモト, マサヒコ
所属機関名
システム情報学研究科
収録物名
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
巻(号)
97(9)
ページ
1945-1951
出版者
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers(IEICE)
刊行日
2014-09
公開日
2015-11-25
カテゴリ
システム情報学研究科
科学技術イノベーション研究科
学術雑誌論文
権利
copyright©2014 IEICE
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資源タイプ
journal article
言語
English (英語)
ISSN
0916-8508
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eISSN
1745-1337
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関連情報
DOI
https://doi.org/10.1587/transfun.E97.A.1945
NAID
130004685431
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